本文標(biāo)題:熒光顯微鏡檢測(cè)微小的工件的條件
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-3-18 16:10:35
熒光顯微鏡檢測(cè)微小的工件的條件
熒光顯微鏡利用旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)與目鏡下端之游標(biāo)微分角度盤，
配全分辨的最小極合目鏡之址字座標(biāo)線。
熒光顯微鏡作分辨的最小極角度量測(cè)，令待測(cè)角一端對(duì)準(zhǔn)十
字線與之重合，然后再讓另一端也重合。
熒光顯微鏡利用分辨的最小極標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)螺紋的節(jié)距、檢測(cè)節(jié)
徑熒光顯微鏡檢測(cè)外徑、檢測(cè)牙角及檢測(cè)牙形等尺寸或檢測(cè)
外形。
熒光顯微鏡檢驗(yàn)分辨的最小極金相表面的晶粒狀況。熒光顯
微鏡檢驗(yàn)分辨的最小極工件加工表面的情況。
熒光顯微鏡檢測(cè)微小工件的尺寸或分辨的最小極輪廓是否與
標(biāo)準(zhǔn)片相符。
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本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://m.rcik.cn/xinwen/1463.html
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