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本文標(biāo)題:原子力顯微鏡電性能測(cè)試時(shí)需要導(dǎo)電性能
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-7-29 11:00:55
原子力顯微鏡電性能測(cè)試時(shí)需要導(dǎo)電性能
利用電性能測(cè)試時(shí)需要導(dǎo)電性能良好的載體，如石墨或鍍有金屬的基片。
樣晶的厚度包樣臺(tái)的厚度，最大試樣過(guò)重，有時(shí)會(huì)影響動(dòng)作，請(qǐng)不要放
過(guò)重的試樣。
試樣的大小以不大于試樣臺(tái)的大小為大致的標(biāo)準(zhǔn)。稍微大一點(diǎn)也沒問(wèn)題。
但是最大值約如果未固定好就進(jìn)行測(cè)量可能產(chǎn)生移位。請(qǐng)固定好后再測(cè)
定。
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